|
Teecons 滾動接觸式 提供多種樣式與技術，滿足不同測試需求 
TN220與TN250接觸探針規格 
半導體測試設定示意圖 |
|
Teecons 滾動接觸式 提供多種樣式與技術，滿足不同測試需求
TN220與TN250接觸探針規格
半導體測試設定示意圖 |
|
Teecons 滾動接觸式 提供多種樣式與技術，滿足不同測試需求
TN220與TN250接觸探針規格
半導體測試設定示意圖 |
|
Teecons 滾動接觸式 提供多種樣式與技術，滿足不同測試需求
TN220與TN250接觸探針規格
半導體測試設定示意圖 |
|
Teecons 滾動接觸式 提供多種樣式與技術，滿足不同測試需求
TN220與TN250接觸探針規格
半導體測試設定示意圖 |
