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    Teecons 滾動接觸式

    提供多種樣式與技術，滿足不同測試需求

    TN220與TN250接觸探針規格

    半導體測試設定示意圖

    Pogo Pin 測試座與LID

    提供多種樣式與技術，滿足不同測試需求

    Test Socket

    Test Socket

    雙鉤式LID

    掀蓋式LID

    Burn-in Socket & LID

    Burn-in Socket & LID

    WLCSP Socket & LID

    導電膠/PCR測試座

    Change Kit

    支援多種主流 Handler 機台型號，並提供客製化選項：

    Seiko Epson Chang Kit： 適用 NS6000, NS7000, NS8000 系列。
    HonTech Chang Kit： 適用 HT7045, HT9046 系列。


    Socket Layout Kit

    提供 Dual Site、Quad Site、Octal Site、Hex Site
    具有高溫測試及常溫測試選項，滿足不同測試溫度需求

    SLK真空 & 加熱檢測儀器

    ◆儀器尺寸：500X500X800mm。
    ◆電源：110/220V ( 2000W，10A )。
    ◆空壓源：正壓6 kg/cm2，負壓80 cm-Hg 。
    ◆測試功能:

    • a.正壓測試：正壓測試
    • b.負壓測試：負壓測試 x 16 SITE (可由操作介面個別獨立操控)。
    • c.加熱測試：溫度測試 x 8 SITE(可由操作介面個別獨立操控,亦可分別啟動1 ∕ 2 ∕ 4 ∕ 6 ∕ 8 SITE同時加熱)
    • d.溫度控制範圍: 50 ~ 150° C ，溫度控制精度: ± 3° C。




    Load Board 靜電消散級置放箱

    ◆箱體 – ABS + 強化鋁條護框 (可承載 25kg)
    ◆內襯 – EVA泡棉
    ◆包覆 – 靜電消散級矽膠 (10⁵ ~ 10⁹ Ω)

    客製化加工件

    Tray

    Tray

    Clean Pad

    Clean Pad

    Probe Card、MLO貼合

    Probe Card、MLO貼合 平面度、高度可控

    若有需求 歡迎聯絡我們
    地址:302新竹縣竹北市新溪街62-2號
    電話:03-6565336
    聯絡人:Ally@mategrace.com.tw

    Probe Card

    MLO